(高溫運行、高溫貯存)的目的是確定軍民用設備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應性及耐久性。確認材料高溫下的性能。高溫環(huán)境對設備的主要影響有: 
a. 填充物和密封條軟化或融化; 
b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減小; 
c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞; 
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學反應等; 
e. 材料膨脹造成機械應力增大或磨損增大。 高溫條件下試件的失效模式 
產品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。高溫試驗能力 
GB/T2423.2-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》 
IEC 60068-2-2:2007《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》 
GJB150.3A-2009《軍用設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗》 
GJB128A-97 《半導體分立器件試驗方法》 
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》 
GJB4.2-83《艦船電子設備環(huán)境試驗 高溫試驗》 
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗 
MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》 
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》 
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》 
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負荷試驗 
SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗 
GB/T13543-92《數(shù)字通信設備環(huán)境試驗方法》 
QC/T 413-2002《汽車電氣設備基本技術條件》 YD/T 1591-2009《移動通信手持機充電器及接口技術要求和測試方法》