檢測鎂合金薄板化學成分的方法有很多，以下是一些常見的方法：
滴定分析法：通過已知濃度的標準溶液與被測物質進行化學反應，根據反應達到化學計量點時所消耗標準溶液的體積，計算出被測物質的含量。例如，用 EDTA 滴定法測定鎂合金中的鎂含量，利用 EDTA 與鎂離子形成穩定絡合物的特性，以鉻黑 T 為指示劑，根據滴定終點顏色的變化確定鎂離子的含量。
重量分析法：將被測組分從試樣中分離出來，轉化為一定的稱量形式，然后通過稱量其質量來計算被測組分的含量。比如，測定鎂合金中的硅含量時，可將硅轉化為硅酸沉淀，經過過濾、洗滌、灼燒后，以二氧化硅的形式稱重，從而計算出硅的含量。
光譜分析法
原子發射光譜法（AES）：利用物質在熱激發或電激發下，每種元素的原子或離子發射特征光譜來判斷物質的組成，進而測定各元素的含量。鎂合金薄板樣品在激發光源的作用下，原子被激發到高能態，當回到基態時會發射出特征光譜，通過檢測這些光譜線的強度和波長，可確定合金中各種元素的種類和含量。
原子吸收光譜法（AAS）：基于氣態的基態原子外層電子對紫外光和可見光范圍的相對應原子共振輻射線的吸收強度來定量被測元素含量。在檢測鎂合金中的微量元素如鐵、銅等時，將樣品溶液噴霧到火焰或石墨爐等原子化器中，使元素原子化，然后用相應元素的空心陰極燈作為光源，測量原子對特定波長光的吸收程度，從而得出元素的含量。
X 射線熒光光譜法（XRF）：用 X 射線照射樣品，使樣品中的元素產生特征熒光 X 射線，根據熒光 X 射線的波長和強度來確定元素的種類和含量。該方法可對鎂合金薄板進行無損檢測，能快速、同時測定多種元素，常用于生產線上的快速檢測和質量控制。
質譜分析法
電感耦合等離子體質譜法（ICP - MS）：將樣品溶液通過霧化器轉化為氣溶膠，進入電感耦合等離子體中被離子化，然后利用質譜儀對離子進行分離和檢測。它具有靈敏度高、檢測限低、可同時測定多種元素等優點，能夠準確測定鎂合金薄板中痕量和超痕量元素的含量，如鋰、鈹等元素。
其他分析法
火花直讀光譜法：以火花放電為激發光源，使樣品中各元素發射出特征光譜，通過光電倍增管等檢測器測量光譜線的強度，進而計算出元素的含量。該方法分析速度快，可在短時間內對多個元素進行同時測定，廣泛應用于鎂合金生產過程中的快速分析和質量控制。
能量色散 X 射線光譜法（EDS）：通常與掃描電子顯微鏡（SEM）或透射電子顯微鏡（TEM）聯用，當電子束轟擊樣品時，樣品中的元素會產生特征 X 射線，EDS 通過檢測這些 X 射線的能量和強度來確定元素的種類和相對含量。它可以對鎂合金薄板的微觀區域進行化學成分分析，了解元素在不同相或微區中的分布情況。