電位器引腳銅加速試驗(yàn)是一種用于評(píng)估電位器引腳在加速腐蝕環(huán)境下可靠性壽命的方法，以下是相關(guān)介紹：
通過模擬惡劣的腐蝕環(huán)境，加速電位器引腳的腐蝕過程，以較短的時(shí)間評(píng)估其在實(shí)際使用中可能面臨的腐蝕問題，預(yù)測引腳在正常工作環(huán)境下的可靠性壽命，幫助企業(yè)優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)、選擇合適的材料和工藝，提高電位器的質(zhì)量和可靠性。
通常采用銅加速乙酸鹽霧試驗(yàn)（CASS 試驗(yàn)），相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)如 GB/T 12967.3-2008《鋁及鋁合金陽極氧化膜檢測方法 第 3 部分：銅加速乙酸鹽霧試驗(yàn)》3。具體步驟如下：
試驗(yàn)設(shè)備準(zhǔn)備：使用符合標(biāo)準(zhǔn)要求的鹽霧試驗(yàn)箱，具備良好的密封性、溫度和濕度控制能力，以及均勻的鹽霧分布。
試驗(yàn)溶液配制：按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，用 GB/T 6682 規(guī)定的三級(jí)水配制試驗(yàn)溶液，通常含有氯化鈉、乙酸和氯化銅等成分，精確調(diào)整溶液的 pH 值。
試樣準(zhǔn)備：選取具有代表性的電位器樣品，確保引腳表面清潔、無油污和雜質(zhì)，將其安裝在試驗(yàn)夾具上，使引腳暴露在鹽霧環(huán)境中。
試驗(yàn)條件設(shè)置：將試驗(yàn)箱的溫度設(shè)置為 50℃±2℃，持續(xù)向試驗(yàn)箱內(nèi)噴霧，使鹽霧沉降率達(dá)到規(guī)定的范圍，試驗(yàn)周期根據(jù)具體要求確定，一般有 96h、120h 等不同的選擇3。
試驗(yàn)過程監(jiān)測：在試驗(yàn)過程中，定期觀察和記錄試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度、濕度、鹽霧沉降率等參數(shù)，確保試驗(yàn)條件的穩(wěn)定性。同時(shí)，觀察試樣引腳的腐蝕情況，如出現(xiàn)腐蝕斑點(diǎn)、銹跡等，記錄出現(xiàn)的時(shí)間和程度。
試驗(yàn)后處理：試驗(yàn)結(jié)束后，取出試樣，用清水沖洗引腳表面的鹽霧殘留，然后進(jìn)行干燥處理。對(duì)引腳進(jìn)行外觀檢查、尺寸測量、電氣性能測試等，評(píng)估引腳的腐蝕程度和性能變化。
外觀評(píng)估：觀察引腳表面的腐蝕狀況，如腐蝕坑的大小、數(shù)量、分布，以及銹跡的覆蓋面積等。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)或經(jīng)驗(yàn)，制定相應(yīng)的外觀評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，如輕微腐蝕、中度腐蝕、嚴(yán)重腐蝕等，以初步判斷引腳的腐蝕程度和對(duì)壽命的影響。
尺寸測量：使用精密量具測量引腳的關(guān)鍵尺寸，如直徑、長度等，觀察尺寸是否因腐蝕而發(fā)生明顯變化。尺寸的減小可能會(huì)影響引腳與其他部件的連接可靠性，根據(jù)尺寸變化量評(píng)估對(duì)壽命的潛在影響。
電氣性能測試：測量電位器引腳的接觸電阻、絕緣電阻等電氣參數(shù)。接觸電阻的增大可能導(dǎo)致信號(hào)傳輸不穩(wěn)定或能量損耗增加，絕緣電阻的降低可能引發(fā)短路等安全問題。通過對(duì)比試驗(yàn)前后電氣性能參數(shù)的變化，評(píng)估引腳腐蝕對(duì)電位器電氣性能的影響，進(jìn)而推斷對(duì)其可靠性壽命的影響。
金相分析：對(duì)引腳進(jìn)行金相切片，觀察其微觀組織結(jié)構(gòu)的變化。腐蝕可能導(dǎo)致晶粒邊界的侵蝕、組織結(jié)構(gòu)的疏松等，通過金相分析可以深入了解腐蝕的機(jī)理和程度，為壽命評(píng)估提供更準(zhǔn)確的依據(jù)。
壽命預(yù)測模型：根據(jù)試驗(yàn)數(shù)據(jù)和相關(guān)理論，建立壽命預(yù)測模型。例如，基于加速壽命試驗(yàn)的理論，利用試驗(yàn)中獲得的腐蝕速率、性能變化等數(shù)據(jù)，外推引腳在正常工作環(huán)境下的壽命。常用的壽命預(yù)測模型有威布爾分布模型、阿倫尼烏斯模型等，通過對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的擬合和分析，確定模型的參數(shù)，從而預(yù)測電位器引腳在實(shí)際使用中的可靠性壽命。
