高低溫測(cè)試的方法
什么是高低溫測(cè)試？高低溫測(cè)試是做什么的？高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試，是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)。基本上所有的產(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化，時(shí)高時(shí)低。比如在有些溫差大的地區(qū)的白天黑夜。或者產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)、運(yùn)行過程中反復(fù)進(jìn)出于高溫區(qū)、低溫區(qū)。這種高低溫環(huán)境高溫時(shí)可能會(huì)達(dá)到70°C度以上甚至更高，低溫時(shí)溫度可能會(huì)達(dá)到-20°C度以下甚至更低。
高低溫測(cè)試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試前先檢查測(cè)試樣品的狀態(tài)，外觀、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，將樣品放入高低溫箱中，設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時(shí)間、變溫的時(shí)間、周期數(shù)。比如高溫70 °C下保持2小時(shí)，然后從70 °C半小時(shí)內(nèi)降到低溫-20 °C，保持2小時(shí)，再?gòu)?20 °C半小時(shí)內(nèi)升溫到70 °C。如此循環(huán)，測(cè)試20個(gè)循環(huán)。測(cè)完后，拿出樣品，檢查測(cè)試后樣品的外觀、功能、性能等。如發(fā)現(xiàn)樣品跟測(cè)試前相比無明顯變化，或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類，則表示測(cè)試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。
電子電器產(chǎn)品的高低溫測(cè)試分為高低溫存儲(chǔ)測(cè)試和高低溫運(yùn)行測(cè)試。高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。高低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。
高低溫測(cè)試對(duì)產(chǎn)品的影響：
一、高溫可能使產(chǎn)品過熱,影響使用安全可靠性，甚至損壞。如：1、使絕緣或密封用灌漿膠熔化流失，潤(rùn)滑脂熔化流失，從而引起損塔2、使材料性能發(fā)生變化3、彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低,縮短產(chǎn)品使用壽命4、加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過程,縮短產(chǎn)品使用壽命。
二、低溫對(duì)機(jī)械、電工、電子產(chǎn)品影響是多方面的，并因產(chǎn)品拄能、程度輔結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)而異，如：1、使電解液凍結(jié)t導(dǎo)致電解電容器、電池不能正常使用2、潤(rùn)滑油粘度增加,甚至冷凝凍結(jié),影響產(chǎn)品起動(dòng)性能3、影響電子產(chǎn)品正常啟動(dòng),增大儀表誤差4、使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容易發(fā)生脆裂損壞,橡膠材料硬度增大,彈性下降。
高低溫測(cè)試對(duì)測(cè)試的具體溫度、高溫和低溫各自保持的時(shí)間、升溫和降溫的時(shí)間、測(cè)多少個(gè)周期等沒有固定的標(biāo)準(zhǔn)，委托方可以自己制定企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)，或按客戶要求制定測(cè)試條件。制定測(cè)試條件時(shí)可參考產(chǎn)品實(shí)際的存儲(chǔ)環(huán)境、運(yùn)輸環(huán)境及使用環(huán)境等。常做的溫度是-30至70°C，溫度保持時(shí)間2小時(shí)至8小時(shí)不等，變溫時(shí)長(zhǎng)一般半小時(shí)以內(nèi)，循環(huán)周期4至20個(gè)周期不等。
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