溫度沖擊試驗是使用比在實際環(huán)境中更短的時間，對試驗樣品進行加速試驗，以考察其失效機理，同時須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機理。將受試樣品電路板放置在溫度沖擊高、低溫周期變化的環(huán)境中來模擬高低溫溫度交替變化對于電子封裝機械與電氣性能的影響，溫度沖擊是評估焊點結(jié)構(gòu)熱力學(xué)可靠性的一種重要的試驗方式。通過溫度沖擊試驗可以暴露元器件潛在的材料缺陷和制造質(zhì)量缺陷，消除早期失效，提高產(chǎn)品可靠性。溫度沖擊試驗應(yīng)用于產(chǎn)品測試的典型情況如下：

1) 產(chǎn)品在高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換；

2) 將產(chǎn)品從地面的高溫環(huán)境快速升到高空的低溫環(huán)境；

3) 將產(chǎn)品從處在高空和低溫條件下的飛機防護殼體由內(nèi)向外空投。

進行溫度沖擊試驗有哪些重要因素呢？

1. 暴露條件

依據(jù)產(chǎn)品在實際應(yīng)用過程中，所處的地理位置情況、現(xiàn)場數(shù)據(jù)等確定試驗溫度，也可根據(jù)其最極端的非工作溫度要求來確定試驗溫度。

2. 高低溫持續(xù)時間

試驗持續(xù)時間（沖擊次數(shù)）的確定，應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品實際應(yīng)用過程中遇到的情況來確定。

因此，有以下幾種情況的沖擊試驗：

1）根據(jù)恒定極值溫度的單方向溫度沖擊，針對暴露于單方向溫度沖擊可能性很小的產(chǎn)品，在每種相應(yīng)條件下進行至少一次沖擊；

2）根據(jù)恒定極值溫度的單循環(huán)沖擊，針對暴露于溫度沖擊環(huán)境可能僅為一次的設(shè)備；

3）根據(jù)恒定極值溫度的多循環(huán)沖擊，當預(yù)測產(chǎn)品更頻繁地暴露于沖擊環(huán)境時，幾乎沒有用于證實具體沖擊次數(shù)的可用數(shù)據(jù)。

3. 轉(zhuǎn)換時間

GJB 150中要求高低溫極值之間的轉(zhuǎn)換時間不大于5min；而GJB 150A中要求轉(zhuǎn)換時間不大于1min，以達到最大的溫度沖擊效果。當轉(zhuǎn)換時間超過1min時，應(yīng)說明超時的合理性。

4. 溫度變化速率

具體體現(xiàn)在升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時試驗嚴酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。

5. 執(zhí)行標準

GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》；

IEC 60068-2-14:2009《環(huán)境試驗 第2-14部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》；

GJB 150.5A-2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗》。