電子電器可靠性鹽霧測試有多種方法，常見的有中性鹽霧試驗（NSS）、乙酸鹽霧試驗（AASS）和銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS）等。以下是這些方法的比較與選擇要點：
中性鹽霧試驗（NSS）
試驗原理：將一定濃度的氯化鈉溶液霧化后，噴射到試驗箱內(nèi)，形成鹽霧環(huán)境，對電子電器產(chǎn)品進行腐蝕試驗。
適用范圍：適用于各種電子電器產(chǎn)品的一般性耐鹽霧腐蝕測試，是最常用的鹽霧測試方法。例如，普通的電子設備外殼、金屬零部件等都可以采用 NSS 試驗來評估其耐鹽霧性能。
試驗條件：氯化鈉溶液濃度一般為 5%，試驗溫度為 35℃左右，相對濕度大于 95%。
優(yōu)缺點：優(yōu)點是操作簡單、成本較低，能夠模擬一般的鹽霧環(huán)境，對產(chǎn)品的腐蝕作用較為溫和，可用于初步評估產(chǎn)品的耐鹽霧性能。缺點是試驗周期較長，對于一些耐腐蝕性較好的材料或產(chǎn)品，可能需要較長時間才能觀察到明顯的腐蝕現(xiàn)象。
乙酸鹽霧試驗（AASS）
試驗原理：在中性鹽霧試驗的基礎上，向鹽霧溶液中加入適量的乙酸，使溶液的 pH 值降低，從而加速產(chǎn)品的腐蝕過程。
適用范圍：適用于對耐腐蝕性要求較高的電子電器產(chǎn)品，如一些高端電子產(chǎn)品的外殼、精密金屬部件等。這些產(chǎn)品在實際使用中可能會接觸到更具腐蝕性的環(huán)境，AASS 試驗能夠更嚴格地評估其耐鹽霧性能。
試驗條件：在 5% 的氯化鈉溶液中加入適量乙酸，使溶液的 pH 值調(diào)整到 3.1 - 3.3，試驗溫度為 35℃。
優(yōu)缺點：優(yōu)點是腐蝕速度比中性鹽霧試驗快，能夠在較短時間內(nèi)獲得產(chǎn)品的腐蝕情況，提高試驗效率。缺點是試驗條件相對苛刻，可能會對一些產(chǎn)品造成過度腐蝕，與實際使用環(huán)境的模擬程度不如中性鹽霧試驗準確。
銅加速乙酸鹽霧試驗（CASS）
試驗原理：在乙酸鹽霧試驗的基礎上，再加入少量的氯化銅，進一步加速鹽霧對產(chǎn)品的腐蝕作用。
適用范圍：主要用于評估電子電器產(chǎn)品中金屬鍍層和涂層的耐腐蝕性，特別是對于一些需要長期在惡劣環(huán)境下使用的產(chǎn)品，如航空航天電子設備、海上電子設備等。
試驗條件：在乙酸鹽霧試驗溶液中加入氯化銅，濃度一般為 0.26g/L，溶液 pH 值為 3.0 - 3.1，試驗溫度為 50℃。
優(yōu)缺點：優(yōu)點是腐蝕速度快，能夠快速檢測出金屬鍍層和涂層的耐蝕性差異，對于評估產(chǎn)品的防護性能非常有效。缺點是試驗條件極為苛刻，與實際使用環(huán)境的差異較大，可能會導致試驗結(jié)果與實際情況存在一定偏差。
根據(jù)產(chǎn)品使用環(huán)境選擇：如果產(chǎn)品在一般的室內(nèi)或室外環(huán)境中使用，沒有特殊的腐蝕性介質(zhì)，可優(yōu)先選擇中性鹽霧試驗。如果產(chǎn)品在沿海地區(qū)或潮濕的工業(yè)環(huán)境中使用，對耐腐蝕性要求較高，則可以考慮乙酸鹽霧試驗。對于在海洋環(huán)境或其他極端惡劣腐蝕環(huán)境中使用的產(chǎn)品，如船舶電子設備、海上石油平臺電子設備等，銅加速乙酸鹽霧試驗更為合適。
根據(jù)產(chǎn)品材料和結(jié)構(gòu)選擇：對于普通的金屬材料和簡單結(jié)構(gòu)的電子電器產(chǎn)品，中性鹽霧試驗通常能夠滿足測試要求。如果產(chǎn)品采用了特殊的金屬鍍層或復雜的涂層防護結(jié)構(gòu)，為了更準確地評估其防護性能，可選擇乙酸鹽霧試驗或銅加速乙酸鹽霧試驗。例如，對于鍍鎳、鍍鉻等金屬鍍層的電子元件，CASS 試驗可以快速檢測出鍍層的孔隙率和耐蝕性，有助于優(yōu)化鍍層工藝。
根據(jù)測試目的和時間要求選擇：如果只是對產(chǎn)品進行初步的耐鹽霧性能篩選或一般性的質(zhì)量控制，中性鹽霧試驗是一個合適的選擇，因為其操作簡單、成本低，雖然試驗周期較長，但能夠提供較為全面的產(chǎn)品耐鹽霧信息。如果需要在較短時間內(nèi)獲得產(chǎn)品的腐蝕情況，以便快速改進產(chǎn)品設計或工藝，或者對產(chǎn)品的耐腐蝕性有較高的置信度要求，則可以選擇乙酸鹽霧試驗或銅加速乙酸鹽霧試驗。例如，在新產(chǎn)品研發(fā)階段，為了盡快確定產(chǎn)品的設計方案是否滿足耐鹽霧要求，可采用 CASS 試驗進行快速驗證。
