電腦產(chǎn)品EMC測(cè)試_抗擾度測(cè)量
強(qiáng)電磁場(chǎng)會(huì)對(duì)人們的健康產(chǎn)生一定的危害。同樣,相對(duì)較弱的電磁騷擾對(duì)設(shè)備或系統(tǒng)也可造成惡性電磁干擾事故。美國(guó)一煉鋼廠曾經(jīng)因?yàn)榭刂铺燔嚨碾娐繁桓蓴_而造成整個(gè)鋼水包的鋼水完全傾倒在車間的地面。曾經(jīng)有一位裝配假肢的騎摩托車駕駛員,當(dāng)行車至高壓電力線下時(shí),由于假肢的控制電路受到干擾而造成車毀人亡的事故。 測(cè)試基本原理 電磁騷擾信號(hào)由無用、亂真的傳導(dǎo)/輻射的電磁信號(hào)組成。電磁抗擾度測(cè)試基本原理是通過模擬自然界和人為產(chǎn)生的電磁騷擾類型,評(píng)估產(chǎn)品在電磁騷擾狀態(tài)下是否能正常工作。 1.模擬騷擾源 電磁騷擾源包括來自自然界的自然騷擾源(如雷電、宇宙空間電磁騷擾、半導(dǎo)體熱噪聲等)和人為騷擾源(如靜電、手機(jī)輻射、電網(wǎng)干擾、電壓波動(dòng)等,如圖a所示。 2.耦合路徑的選擇 耦合路徑包括傳導(dǎo)和輻射兩種方式。對(duì)于低頻(150kHz~80MHz)射頻信號(hào),由于其波長(zhǎng)比EUT尺寸要長(zhǎng)得多,EUT的互連電纜(包括電源線和信號(hào)線)比EUT本身更容易成為天線而接收電磁場(chǎng),因此這些頻段通常采用傳導(dǎo)測(cè)量方式。對(duì)于高頻(80MHz~1GHz或更高)射頻信號(hào),由于其波長(zhǎng)比EUT尺寸要小,通常會(huì)通過空間傳播,因此這些頻段通常采用輻射測(cè)量方式。 3.耦合端口的選擇 耦合端口是抗干擾項(xiàng)目最終實(shí)施并作用到產(chǎn)品的最后要素,也是選擇測(cè)試項(xiàng)目很重要的一個(gè)依據(jù)。標(biāo)準(zhǔn)中端口的概念如圖b所示。
上一篇:?歐洲“無線電設(shè)備指令”(RED或RE-D)立法 歐盟CE
下一篇:?電子產(chǎn)品 EMC測(cè)試_傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量程序和需要注意的一些事項(xiàng)
- 電子電器可靠性鹽霧測(cè)試:方法比較與選擇
- 鹽霧測(cè)試在保障電子電器可靠性中的價(jià)值
- 鹽霧測(cè)試:電子電器可靠性的環(huán)境適應(yīng)性考驗(yàn)
- 電子電器產(chǎn)品鹽霧測(cè)試:可靠性的關(guān)鍵評(píng)估方法
- 解析電子電器產(chǎn)品光照老化測(cè)試與壽命可靠性優(yōu)化的關(guān)系
- 《分析電子電器在光照老化測(cè)試下的壽命變化規(guī)律》
- 《如何利用光照老化測(cè)試保障電子電器產(chǎn)品壽命與可靠性》
- 探究光照老化測(cè)試對(duì)電子電器產(chǎn)品壽命和可靠性的具體影響
- 《電子電器產(chǎn)品光照老化測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)解析》
- 《ESPEC 射頻干擾測(cè)試在電子電器壽命可靠性分析中的作用》