要利用光照老化測試保障電子電器產(chǎn)品壽命與可靠性，可從以下幾方面著手：
明確測試目的和標(biāo)準(zhǔn)：確定是要評估產(chǎn)品外殼材料的耐候性、電子元件的性能穩(wěn)定性，還是整個產(chǎn)品在光照環(huán)境下的綜合可靠性等。然后根據(jù)產(chǎn)品的類型、使用環(huán)境及目標(biāo)市場，選擇合適的國際、國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如 ASTM G154、ISO 4892、GB/T 16422 等234。
選擇合適的樣品：應(yīng)選取具有代表性的產(chǎn)品樣品，涵蓋不同批次、不同生產(chǎn)工藝的產(chǎn)品，且樣品數(shù)量要滿足測試要求，通常不少于三件，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性3。
設(shè)備校準(zhǔn)：對光照老化測試設(shè)備進(jìn)行定期校準(zhǔn)，確保光源的輻照度、波長范圍、溫度和濕度控制系統(tǒng)等參數(shù)準(zhǔn)確可靠，以保證測試結(jié)果的可比性和有效性。
參數(shù)設(shè)置1：
光源類型：根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)和測試目的選擇光源。如紫外光老化試驗(yàn)適用于評估聚合物材料的老化，氙燈老化試驗(yàn)更適合模擬太陽光對產(chǎn)品顏色變化等方面的影響。
輻照度：標(biāo)準(zhǔn)輻照度一般在 200 - 1000W/m2 之間，需依據(jù)材料和產(chǎn)品的不同進(jìn)行調(diào)整，輻照度過高可能導(dǎo)致過度老化，過低則無法在規(guī)定時(shí)間內(nèi)獲得有效的測試結(jié)果。
溫度和濕度：溫度范圍通常在室溫至 70°C，濕度控制在 40% - 70% 之間，模擬產(chǎn)品實(shí)際使用環(huán)境中的溫濕度條件，因?yàn)闇貪穸鹊淖兓瘯铀倩驕p緩材料的老化過程。
測試時(shí)間：根據(jù)材料特性和產(chǎn)品要求設(shè)定，短則幾百小時(shí)，長則數(shù)千小時(shí)。例如，中等強(qiáng)度光照下大約 2000 小時(shí)可簡單預(yù)測材料的長期使用性能。
樣品放置：將樣品合理放置在測試設(shè)備中，確保樣品表面均勻暴露在光照下，且避免樣品之間相互遮擋或干擾，同時(shí)要固定好樣品，防止在測試過程中發(fā)生移動。
過程監(jiān)測：在測試過程中，定期觀察樣品的狀態(tài)，記錄樣品出現(xiàn)的顏色變化、表面裂紋、變形等現(xiàn)象，以及測試設(shè)備的運(yùn)行參數(shù)，如光源的穩(wěn)定性、溫濕度的波動等，如有異常及時(shí)調(diào)整或處理。
性能評估：測試結(jié)束后，對樣品進(jìn)行全面的性能評估，包括外觀檢查、物理性能測試（如拉伸強(qiáng)度、硬度、韌性等）、電氣性能測試（如絕緣電阻、電容、電阻等）、化學(xué)性能分析（如成分變化、有害物質(zhì)釋放等），以確定產(chǎn)品在光照老化后的性能變化程度24。
數(shù)據(jù)分析：對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行詳細(xì)分析，對比測試前后的數(shù)據(jù)，找出性能變化的規(guī)律和趨勢，評估產(chǎn)品是否滿足設(shè)計(jì)要求和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，判斷產(chǎn)品的壽命和可靠性是否受到光照老化的顯著影響。
改進(jìn)措施：根據(jù)測試結(jié)果和數(shù)據(jù)分析，針對發(fā)現(xiàn)的問題采取相應(yīng)的改進(jìn)措施。如優(yōu)化產(chǎn)品的材料選擇，改進(jìn)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，增加防護(hù)涂層或采取其他防護(hù)措施，以提高產(chǎn)品在光照環(huán)境下的壽命和可靠性。同時(shí)，將測試結(jié)果反饋到產(chǎn)品的研發(fā)和生產(chǎn)過程中，為后續(xù)產(chǎn)品的改進(jìn)和優(yōu)化提供依據(jù)。
